ქურდაძე მ, კაიშაური თ, ირემაძე ი. ფუნქციური ოპტოელექტრონული სტრუქტურის საიმედოობის უზრუნველყოფისა და შეფასების მეთოდი . bsrs. 2023;16:1223-1231. Accessed February 18, 2026. https://papers.4science.ge/index.php/bsrs/article/view/264